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プリンテッドハイブリッドエレクトロニクスのリスク低減研究のためのテストクーポンの設計と製造 Asse

プリンテッドハイブリッドエレクトロニクスアッセンブリーの


講演者 アリソン・クリッツ|会社概要 パーソンズ|日時:2021年5月11日~12日|プレゼンテーション全文


エアロゾルジェット、シリンジ、ステレオリソグラフィー(SLA)印刷を含む様々なアディティブマニュファクチャリング技術を使用して製造されるプリンテッドハイブリッドエレクトロニクス(PHE)Arduinoタイプの試作品における故障リスクの調査について発表する予定です。この設計では、異なる部品や材料の界面に、熱膨張のミスマッチや温度サイクルに起因する銀のマイグレーションなどの潜在的な故障要因が存在します。本講演では、3種類のテストクーポンの設計根拠、製造方法、試験条件について説明します。各クーポンは、PHEアセンブリの異なる関心領域を分離し、最大のリスクを特定し防止することを目的としています。


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詳しくは

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前回のイベントに関するフィードバックはこちらをご覧ください。 https://www.techblick.com/events-agenda



[This is automatically translated from English]





 

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