Un groupe de chercheurs de l'Institut de technologie des microstructures, de l'Institut de technologie de la lumière et de la technologie des films minces (TFT) de l'Institut de technologie de Karlsruhe a publié un article RRL Solar intitulé "Correlative In Situ Multichannel Imaging for Large-Area Monitoring of Morphology Formation in Solution-Processed Perovskite Layers", qui met en évidence une nouvelle méthode permettant de mesurer la qualité des films minces de grande surface de manière triple : La réflectance, l'intensité de la photoluminescence (PL) et la longueur d'onde de l'émission PL de manière rapide et simultanée.
"Les techniques optiques (ou IR) présentent l'avantage de pouvoir être facilement utilisées pour contrôler les méthodes courantes de traitement des solutions, telles que le revêtement par centrifugation ou le revêtement par lame, et de pouvoir fournir des informations sur de grandes surfaces à faible coût en utilisant des caméras comme détecteurs d'imagerie, tandis que l'excitation nécessaire sur de grandes surfaces peut être fournie par des diodes électroluminescentes de grande puissance. L'imagerie de luminescence et de réflectance sur de grandes surfaces - déjà établie dans d'autres technologies PV comme le silicium, le GaAs, le CdTe et le CIGS - ainsi que la microscopie de luminescence, ont démontré qu'elles pouvaient fournir des informations essentielles sur la qualité des films minces de pérovskite et sur les performances des dispositifs intégrant ces films. Cependant, à notre connaissance, il n'existe actuellement aucune technique disponible combinant à la fois une capacité d'imagerie sur de grandes surfaces et un fonctionnement rapide en temps réel pour analyser la dynamique de la formation de la pérovskite."
"En réponse, nous avons développé une technique de surveillance in situ basée sur une caméra scientifique disponible dans le commerce, une source lumineuse annulaire peu coûteuse et une roue à filtres à rotation rapide imprimée en 3D, capable de générer des séquences d'images de réflectance, d'intensité de photoluminescence (PL) et une estimation de la longueur d'onde d'émission PL centrale à une "fréquence d'images" de 3 ips chacune. Cette technique, que nous appelons imagerie in situ multicanaux (IMI), permet de suivre les stades dynamiques, I-IV, dans l'espace et dans le temps. Afin de fournir des conditions idéales pour tester les capacités de l'IMI, nous contrôlons entièrement le flux d'air et la température de l'échantillon. Avec cette référence idéalisée en main, nous démontrerons que l'IMI serait utile dans les lignes d'enrobage à l'échelle industrielle."
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