Eine Gruppe von Forschern des Instituts für Mikrostrukturtechnik, des Instituts für Lichttechnik und der Dünnschichttechnologie (TFT) am Karlsruher Institut für Technologie hat einen RRL Solar Artikel veröffentlicht "Correlative In Situ Multichannel Imaging for Large-Area Monitoring of Morphology Formation in Solution-Processed Perovskite Layers" eine neuartige Methode zur Messung der Qualität großflächiger dünner Schichten in dreifacher Hinsicht vor: Reflexionsgrad, Photolumineszenz (PL)-Intensität und PL-Emissionswellenlänge schnell und gleichzeitig.
"Optische (oder IR-)Techniken haben den Vorteil, dass sie leicht für die Überwachung gängiger Lösungsbearbeitungsmethoden wie Spin-Coating oder Blade-Coating eingesetzt werden können und dass sie großflächige Informationen zu geringen Kosten liefern können, indem Kameras als bildgebende Detektoren verwendet werden, während die erforderliche großflächige Anregung durch Hochleistungs-Leuchtdioden erfolgen kann. Lumineszenz- und Reflexionsbildgebung auf großen Flächen - bereits bei anderen PV-Technologien wie Silizium, GaAs, CdTe und CIGS etabliert - sowie Lumineszenzmikroskopie liefern nachweislich wichtige Informationen über die Qualität der Perowskit-Dünnschicht und die Leistung von Geräten, die diese Schichten enthalten. Unseres Wissens gibt es jedoch derzeit keine Technik, die sowohl die Fähigkeit zur Abbildung großer Flächen als auch eine schnelle Echtzeit-Analyse der Dynamik der Perowskitbildung bietet."
"Als Antwort darauf haben wir eine In-situ-Überwachungstechnik entwickelt, die auf einer handelsüblichen wissenschaftlichen Kamera, einer kostengünstigen Ringlichtquelle und einem 3D-gedruckten, schnell rotierenden Filterrad basiert, das in der Lage ist, Bildsequenzen des Reflexionsgrads, der Photolumineszenzintensität (PL) und eine Schätzung der zentralen PL-Emissionswellenlänge mit einer "Bildrate" von jeweils 3 fps zu erzeugen. Mit dieser Technik, die wir als In-situ-Mehrkanalbildgebung (IMI) bezeichnen, können die dynamischen Phasen I-IV sowohl räumlich als auch zeitlich verfolgt werden. Um idealisierte Bedingungen für die Prüfung der IMI-Fähigkeit zu schaffen, behalten wir die volle Kontrolle über den Luftstrom und die Temperatur der Probe. Mit dieser idealisierten Referenz werden wir zeigen, dass IMI in industriellen Beschichtungsanlagen nützlich ist." [This is automatically translated from English]
