Un grupo de investigadores del Instituto de Tecnología de Microestructuras, del Instituto de Tecnología de la Luz y de la Tecnología de Películas Finas (TFT) del Instituto Tecnológico de Karlsruhe ha publicado un artículo en RRL Solar titulado "Correlative In Situ Multichannel Imaging for Large-Area Monitoring of Morphology Formation in Solution-Processed Perovskite Layers" en el que se destaca un novedoso método para medir la calidad de las películas finas de gran superficie de una manera triple: Reflectancia, intensidad de fotoluminiscencia (PL) y longitud de onda de emisión de PL de forma rápida y simultánea.
"Las técnicas ópticas (o de infrarrojos) tienen la ventaja de que pueden utilizarse fácilmente para supervisar los métodos habituales de procesamiento de soluciones, como el revestimiento por espinamiento o el revestimiento de láminas, y de que pueden proporcionar información de grandes áreas a bajo coste utilizando cámaras como detectores de imágenes, mientras que la excitación necesaria de grandes áreas puede proporcionarse mediante diodos emisores de luz de alta potencia. Las imágenes de luminiscencia y reflectancia en grandes áreas -ya establecidas en otras tecnologías fotovoltaicas como el silicio, el GaAs, el CdTe y el CIGS-, así como la microscopía de luminiscencia, han demostrado proporcionar información crítica sobre la calidad de la capa fina de perovskita y el rendimiento de los dispositivos que incorporan estas películas. Sin embargo, hasta donde sabemos, no existe actualmente ninguna técnica que combine la capacidad de obtención de imágenes en grandes áreas y el funcionamiento rápido en tiempo real para analizar la dinámica de la formación de la perovskita".
"En respuesta, desarrollamos una técnica de monitorización in situ basada en una cámara científica disponible en el mercado, una fuente de luz anular de bajo coste y una rueda de filtros impresa en 3D de rápida rotación que es capaz de generar secuencias de imágenes de reflectancia, intensidad de fotoluminiscencia (PL) y una estimación de la longitud de onda de emisión de PL central a una "velocidad de cuadro" de 3 fps cada una. Esta técnica, que llamamos imagen multicanal in situ (IMI), permite seguir las etapas dinámicas, I-IV, tanto en el espacio como en el tiempo. Con el fin de proporcionar condiciones idealizadas para probar la capacidad de IMI, mantenemos un control total del flujo de aire y la temperatura sobre la muestra. Con esta referencia idealizada a mano, demostraremos que la IMI sería útil en las líneas de recubrimiento a escala industrial".
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